梅特勒天平作為實驗室常用基礎(chǔ)儀器，其作用主要是稱量物體質(zhì)量，想要實驗結(jié)果更加準確可靠，實驗中樣品的量必須準確。為了保證實驗結(jié)果的準確性，必須保證梅特勒電子天平測量的準確度，在使用前或測量環(huán)境改變后都要進行校準操作。下面，我們就來看看梅特勒電子天平如何校準。
梅特勒電子天平有內(nèi)校和外校兩種校準方式。
1. 內(nèi)校：內(nèi)校型梅特勒天平使用方便，但價格稍高。校準時只需長按CAL鍵就可以完成校準過程。內(nèi)校型電子天平如梅特勒型分析天平（AB-S/FACT系列），如圖1.
特勒型分析天平（AB-S/FACT系列）
2. 外校：外校型梅特勒天平對砝碼要求較高，砝碼有灰塵、磨損時都會對校準結(jié)果產(chǎn)生影響。校準時先按CAL鍵，直到顯示屏上顯示CAL-,再把標準砝碼放入天平秤盤上，完成校準過程。例如，顯示屏出現(xiàn)CAL-100時，把 100g標準砝碼放入稱盤，隨后顯示屏出現(xiàn)“----”等待狀態(tài)，當顯示屏出現(xiàn)100.000g時，取走標準砝碼，此時顯示屏應顯示0.000g,若讀數(shù) 不為零，則清零后再次進行校準操作以完成校準過程。外校型梅特勒天平如梅特勒XP超越系列分析天平，如圖2.
梅特勒XP超越系列分析天平
需要注意的是，梅特勒電子天平的準確度和內(nèi)校、外校沒有直接的關(guān)系，還應綜合考慮其它技術(shù)指標來選購合適的梅特勒電子天平。
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